2019年10月23-26日，第十八屆北京分析測試學術(shù)報告會暨展覽會“BCEIA2019”將在北京·國家會議中心隆重開幕，展出國內(nèi)外500余家參展企業(yè)帶來的數(shù)千項新的產(chǎn)品和技術(shù)，如儀器設備、試劑、軟件和分析測試服務等；同時，作為BCEIA重要組成部分的學術(shù)報告會將繼續(xù)組織國內(nèi)外科學家參加大會報告、10個分會報告（電子顯微鏡與材料科學、質(zhì)譜學、光譜學、色譜學、磁共振波譜學、電分析化學、生命科學、環(huán)境分析、化學計量與標準物質(zhì)、標記免疫分析）、專題論壇、墻報、同期會議，面向世界科技前沿，圍繞新原理、新方法、新技術(shù)等多個方面進行研討和展望。
 
我司將參加 北京分析測試學術(shù)報告會暨展覽會 
我們誠邀您作為我司特邀觀眾蒞臨參觀！
 
廣州貝拓科學技術(shù)有限公司
展區(qū)： 北京·國家會議中心E5館
展位號：5E013  

參展產(chǎn)品：
自動型接觸角測量儀DSA-X Plus
DSA-X Plus 光學接觸角測量儀由貝拓科學自主研發(fā)設計生產(chǎn)，配置先進的高分辨高速工業(yè)相機搭配LED冷光源，獲得高清圖像并通過全新優(yōu)化的軟件進行計算擬合獲得準確的測試數(shù)據(jù)。儀器機構(gòu)結(jié)合了人體工程學，提供人性化的自動化進樣調(diào)節(jié)、樣品臺調(diào)節(jié)、光學系統(tǒng)調(diào)節(jié)等，使測試變得而快速。  
 
白光干涉薄膜厚度測量儀Delta
白光干涉薄膜厚度測量儀Delta利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。白光干涉薄膜厚度測量儀Delta根據(jù)反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。

透反射率測量儀RT100
RT100透反射率測量儀支持透過率和反射率測量，給出光譜曲線，可用于測試樣品的紫外到近紅外波段（寬可達200-2500nm）的透過率及反射率。采用一體式設計，樣品倉可以*閉合，把外界光的影響減到低。軟件簡單易用，自動判斷測量結(jié)果是否合格。
RT100廣泛地用于光學玻璃、薄膜、顯示、觸摸屏、手機蓋板等行業(yè)。配備積分球，可用于具有毛糙表面的樣品反射光譜和透射光譜測試，如聚光玻璃、毛玻璃等。 

誠邀您的光臨！

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